Перший етап є не тільки самим трудомістким, але і найбільш важливим в процесі ремонту. В деяких випадках несправні елементи в електронних схемах видно неозброєним оком. Їх заміна може привести до відновлення працездатності пристрою, але, часто, згорілий елемент є не причиною, а наслідком виниклої несправності. В цьому випадку, Ви будете здивовані, коли усунена несправність виникне знову через деякий час.

Встановлення причини відмови слід починати з аналізу ситуації, при якій виникла несправність, в першу чергу, звертаючи увагу на симптоми, нехарактерні при нормальній роботі пристрою.

Причини виникнення несправностей.

Слід пам'ятати, що несправності в електронних пристроях можуть виникнути по наступних причинах.

Неправильна експлуатація. Це одна з найпоширеніших причин відмов, Зазвичай, аналіз порушень правил експлуатації підказує, де потрібно шукати несправність.
Неузгодженість пристрою з вітчизняними телефонними мережами. Виключити цю причину можна ще при придбанні телефонного апарату — поцікавтеся, чи сертифікований даний пристрій належним чином?
Технологічні помилки виробника. У жорсткій конкурентній боротьбі виробники прагнуть привернути покупців широким діапазоном сервісних функцій. А це, у свою чергу, приводить до ускладнення самого пристрою. Хто може дати гарантію, що розробники нічого не упустили? Досвід показує зворотне.
Низька якість електронних елементів. Може служити поясненням невисокої ціни пристрою.
Дія зовнішніх чинників. Я не маю на увазі стихійні лиха. Іноді, причиною виникнення несправності може стати аварія АТС або мережі електроживлення. Бездротовим пристроям може сильно пошкодити блискавка(грім).
Старіння електронних компонентів. Воно може бути як природним, так і викликаним перегрівом елементів унаслідок технологічних недоробок або порушень правил експлуатації. При цьому змінюються параметри елементів, що приводить до істотного погіршення якості роботи телефонного апарату або до повного виходу його з ладу. Пошук несправностей, викликаних зміною параметрів електронних елементів найбільш трудомісткий, вимагає наявність спеціалізованих вимірювальних приладів і високої кваліфікації того, що проводить ремонт.

Поелементна перевірка згідно визначенню, полягає в ретельній перевірці всіх елементів схеми. Цей процес найбільш тривалий і вимагає копіткої роботи. Дозволяє однозначно визначити несправні елементи. У чистому вигляді рекомендується при ремонті пристрою без принципової схеми.

Покаскадна перевірка полягає в аналізі вхідних і вихідних сигналів каскадів схеми. Дозволяє визначити несправну ділянку схеми. Припускає обов'язкову наявність багатофункціонального джерела сигналу і пристрою аналізу, наприклад, генератора сигналів і осцилографа.

Метод порівняння припускає наявність аналогічного, але справного пристрою. Полягає в порівнянні статичних і динамічних параметрів електронних компонентів двох пристроїв при однакових режимах роботи. Метод досить тривалий і складний. Рекомендується при проведенні ремонту без принципової схеми пристрою.

Метод модульної заміни також припускає наявність справного аналогічного пристрою або його справних блоків. Дозволяє швидко визначити несправний модуль. Застосовується в пристроях, побудованих за модульним принципом.

Кожен з перерахованих методів ефективний тільки при виконанні певних умов і, тому, практично ніколи не застосовується виключно. Чаще всього застосовується комбінований метод який, залежно від ситуації, суміщає в собі перераховані методи в найбільш зручних комбінаціях. Так, найбільш оптимальною була б методика, що включає зовнішній огляд, аналіз принципової схеми, покаськадную перевірку вибраної ділянки і поелементну перевірку в межах несправного каскаду схеми.

Пошук несправностей
При зовнішньому огляді схеми Вам може повезти, і Ви відразу побачите порушення в схемі, місця “холодного” паяння, що обвуглилися елементи. Рідше можна побачити дим або відчути перегрів. Ці симптоми однозначно указують на несправні елементи.

Всі електронні пристрої складаються з типових компонентів. Вони можуть виглядати по-різному — бути окремо змонтованими на друкарській платі як стандартні або безкорпусних елементів, входити до складу мікросхем або мікроскладок, але завжди матимуть характерні для свого класу відмови.

Вихід з ладу напівпровідникових елементів (транзисторів, діодів, стабілітронів і так далі) викликається пробоєм напівпровідникового матеріалу; у ряді випадків короткозамкнуті переходи вигоряють, утворюючи обриви між виводами елементу. Можливо також зміна хімічного складу напівпровідникового переходу унаслідок тривалої дії високої температури — перегріву. Заздалегідь працездатність дискретних напівпровідникових елементів можна перевірити за допомогою омметра, контролюючи опір переходів в прямому і зворотному включенні. При цьому біполярний транзистор можна представити у вигляді двох зустрічно (p-n-р транзистор) або протилежно (n-p-п транзистор) включених діодів, загальним електродом яких виступатиме база транзистора.

Конденсатори виходять з ладу в результаті пробою, короткого замикання або з іншої причини втрати ізолюючих властивостей діелектричного матеріалу. Зміни в хімічному складі або геометричних співвідношеннях діелектричного матеріалу і, як наслідок, зміна електричних параметрів конденсаторів також викликає порушення працездатності електронних схем. Працездатність конденсаторів перевіряють за допомогою вимірника ємкості, перевіряючи на відповідність дійсній ємкості номіналу. Грубо конденсатор можна перевірити на відсутність пробою або здатність накопичення заряду за допомогою омметра.

Відмови резисторів пов'язані з розривами резістівного шаруючи, пробоями або втратою електричних контактів виводів. Працездатність резисторів контролюється омметром.

Елементи індуктивності частіше страждають від обривів обмоток або короткозамкнутих витків. Різні механічні навантаження і перепади температури навколишнього середовища викликають зміни частотних параметрів котушок індуктивності.

Найбільш важкими у визначенні є відмови електронних компонентів пов'язані з частковим відхиленням параметрів, викликаних перегрівом, механічним пошкодженням, природним старінням елементів. Для виявлення подібних відмов Вам знадобляться спеціалізовані вимірювальні прилади (випробувач діодів, транзисторів, вимірник L, C).